(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202210891389.8
(22)申请日 2022.07.27
(71)申请人 镭神技术 (深圳) 有限公司
地址 518101 广东省深圳市宝安区新 安街
道67区留仙一路甲岸科技工业园1号
厂房1楼B区
(72)发明人 李伟 曹然
(74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限
公司 44224
专利代理师 黄鸿华
(51)Int.Cl.
G01R 31/26(2014.01)
G01R 1/02(2006.01)
G01R 1/04(2006.01)
H05K 7/20(2006.01)
(54)发明名称
微型半导体制冷片的老化设备及老化测试
方法
(57)摘要
本申请涉及微型半导体制冷片的老化设备
及老化测试方法, TEC夹具组件用于装载待测试
的微型半导体制冷片, TEC下压加电组件用于为
微型半导体制冷片上电进行老化测试; TEC控温
平台组件用于抵接微型半导体制冷片且控制老
化测试的温度; TEC老化水冷板部件以接触方式
为TEC控温平台组件进行散 热, TEC电气 控制部件
用于供电控制。 本申请适用于微型半导体制冷片
的老化测试, 一方面通过TEC夹具组件的设计, 提
升了微型半导体制冷片的装夹效率、 兼容性及可
靠性; 另一方面配合多个TEC夹具组件即可实现
不同规格产品、 大批量及多通道独立控制的老化
测试; 再一方面保证了老化工艺的稳定性及一致
性。
权利要求书3页 说明书12页 附图16页
CN 115144722 A
2022.10.04
CN 115144722 A
1.一种微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 包括TEC老化压紧加电单元部件
(100)、 TEC老化水冷板 部件(200)及TEC电气控制部件(3 00);
所述TEC老化压紧加电单元部件(100)包括TEC夹具组件(150)、 TEC控温平台组件
(160)、 TEC下压加电组件(170);
所述TEC夹具组件(150)用于装载待测试的微型半导体制冷片, 所述TEC夹具组件(150)
滑动设置于所述TEC下压加电组件(170)下, 所述TEC下压加电组件(170)用于为所述微型半
导体制冷片上电进行老化测试;
所述TEC控温平台组件(160)可拆卸地设置于所述TEC夹具组件(150)及 所述TEC下压加
电组件(170)之间, 所述TEC控温平台组件(160)用于抵接所述微型半导体制冷片且控制老
化测试的温度;
所述TEC老化压紧加电单元部件(100)设置于所述TEC老化水冷板部件(200)及 所述TEC
电气控制部件(300)之间, 所述TEC老化水冷板部件(200)以接触方式为所述TEC控温平台组
件(160)进行散热, 所述TEC电气控制部件(300)电连接所述TEC控温平台组件(160)、 所述
TEC下压加电组件(170)、 所述TEC老化水冷板部件(200)及所述微型半导体制冷片, 用于供
电控制。
2.根据权利要求1所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC老化水冷
板部件(200)开设有空槽(209), 所述TEC夹具组件(150)及其上的所述TEC控温平台组件
(160)穿过所述空槽(209)设置 。
3.根据权利要求2所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC老化水冷
板部件(2 00)还设有水管接头(201)、 快接接线端子(2 02)、 水冷板(203)、 控制面板(205)、 运
行正常指示灯(20 6)、 开关按 钮(207)及故障指示灯(208);
所述水冷板(203)与所述控制面板(205)相固定, 所述水冷板(203)通过所述水管接头
(201)实现内外部水路连通, 所述TEC控温平台组件(160)或其控温TEC单元(109)与所述水
冷板(203)相接触;
所述快接接线端子(202)固定于所述水冷板(203)上, 所述快接接线端子(202)线路连
接所述控制面板(20 5);
所述运行正常指示灯(206)、 所述开关按钮(207)及所述故障指示灯(208)均设置于所
述控制面板(20 5)上。
4.根据权利要求1所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC电气控制
部件(300)设有待测试TEC产品供电电源(301)、 24V供电电源(302)、 TEC控制板(304)、 控温
TEC供电电源(306)、 输入输出模块(3 09)及电源接口(310);
所述电源接 口(310)用于接入电源且分别电连接所述待测试TEC产品供电电源(301)、
所述24V供电 电源(302)及所述控温TE C供电电源(306);
所述待测试TEC产品供电电源(301)通过所述TEC控制板(304)为所述微型半导体制冷
片供电且提供 可调节电压源;
所述控温TEC供电电源(306)为所述TEC控温平台组件(160)或其控温TEC单元(109)供
电且提供 可调节电流源;
所述24V供电 电源(302)为所述输入输出模块(3 09)供电。
5.根据权利 要求1所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 还包括壳体(400),权 利 要 求 书 1/3 页
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2所述壳体(400)配合所述TEC老化水冷板部件(200)及所述TEC电气控制部件(300), 共同容
纳所述TE C老化压紧加电单 元部件(10 0)。
6.根据权利要求1至5中任一项所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述
TEC夹具组件(150)设有至少一个TEC老化夹具(101)、 定位销(102)、 与所述TEC老化夹具
(101)数量相同的螺丝销 钉(103)、 抽屉底板(104)、 隔热板(105)、 抽屉面板(106)及施力结
构(107);
所述隔热板(105)及所述施力结构(107)分别固定于所述抽屉面板(106)的两侧, 所述
抽屉面板(106)通过所述隔热板(105)连接所述抽 屉底板(104), 所述施力结构(107)用于在
受力时使所述抽屉 面板(106)带动 所述TEC夹具组件(150)整体相对于所述TEC下压加电组
件(170)滑动;
所述TEC老化夹具(101)设置于所述抽屉底板(104)上, 每一个所述TEC老化夹具(101)
用于固定一个所述微型半导体制冷片, 所述螺丝销钉(103)用于固定所述TEC老化夹具
(101);
所述定位销(102)用于 定位安装所述TE C控温平台组件(16 0)。
7.根据权利要求6所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC控温平台
组件(160)设有 导向限位销(108)、 控温TEC单元(109)、 TEC压块(110)、 弹性件(111)、 导向条
(113)及TEC固定板(114);
每个所述控温TEC单元(109)通过所述TEC固定板(114)及所述TEC压块(110)限位于被
所述TEC老化夹具(101)所固定的一个所述微型半导体制冷片上并与所述微型半导体制冷
片相接触以实现热传导;
所述导向限位销(108)穿设于所述导向条(113)上, 且所述导向限位销(108)通过所述
弹性件(111)安装于所述定位销(102)上, 用于在所述TEC下压加电组件(170)的作用下通过
所述导向条(113)向所述TEC固定板(114)施加压力, 以使所述控温TEC单元(109)抵接所述
微型半导体制冷片且控制老化测试的温度; 还用于在所述TEC下压加电组件(170)停止作用
下松开所述控温TE C单元(109)使其 不再抵接所述微型半导体制冷片。
8.根据权利要求7所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC固定板
(114)的数量为一对, 且一对所述TEC固定板(114)相对于所述导向条(113)对称设置; 及/
或,
对于一个所述TE C固定板(114), 所述控温TE C单元(109)的数量 为至少三个; 及/或,
所述TEC夹具组件(15 0)的数量 为至少三个。
9.根据权利要求7所述微型半导体制冷片的老化设备, 其特征在于, 所述TEC下压加电
组件(170)设有气缸(116)、 加电支架(122)、 第一导轨(128)、 加电支撑板(129)、 下压底板
(132)、 锲形块(13 3)、 第二导轨(135)及盖板(136);
两个所述加电支撑板(129)分别与所述盖板(136)连接, 每个所述加电支撑板(129)沿
着下压方向固定有一个所述第一导轨(128), 所述下压底板(132)滑动设置于两个所述第一
导轨(128)上, 所述加电支架(122)固定于所述下压底板(132)下且与所述TEC电气控制部件
(300)电连接;
所述气缸(116)固定于所述盖板(136)下, 所述第二导轨(135)沿所述气缸(116)的输出
方向固定 于所述盖 板(136)下, 所述锲形块(13 3)滑动设置 于所述第二 导轨(135)下;权 利 要 求 书 2/3 页
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专利 微型半导体制冷片的老化设备及老化测试方法
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