ICS17.180.30 CCS N 34 JB 中华人民共和国机械行业标准 JB/T 7402—XXXX 代替JB/T7402-1994 平行平晶 Parallel optical flat （报批稿） XXXX-XX-XX 发布 XXXX-XX-XX实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 JB/T7402—XXXX 目 次 前言 II 引言 IH 范围 1 2 规范性引用文件. 3 术语和定义 材料、尺寸、分组和成套配置 4 技术要求 5 5. 1 主要技术指标. 5. 2 表面症病. 5. 3 两工作面的表面粗糙度 5. 4 材料缺陷. 5.5 5. 6 运输、贮存基本环境试验 试验方法 错误！未定义书签。 6 6. 1 试验条件 6. 2 两工作面平行度， 6. 3 尺寸偏差.. 6. 4 成套平行平晶尺寸递差 6. 5 工作面平面度... 6.6 两平面的表面疵病. 6. 7 两平面的表面粗糙度 6.8 材料缺陷. 6. 9 外观， 6. 10 运输、贮存基本环境条件试验 检验规则 7 7. 1 检验分类. 7. 2 出厂检验（即交货检验） 7. 3 型式检验 8标志、包装、运输及贮存 8. 1 标志 8. 2 包装 运输 8.3 8. 4 贮存 JB/T7402—XXXX 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件与JB/T7402-1994相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下： 更改了标准的适用范围（见第1章）： 增加了“术语和定义”一章（见第3章） 增加了各组平行平晶所适用的被检量具测量范围的规定（见4.3）； 增加了对成套平行平晶尺寸递差的技术要求和试验方法（见表3序3、6.4）； 并将1994年版附录A的内容纳入正文（见5.2）： 的技术要求（见5.4.1、5.4.3，1994年版的4.1）； 要求（见5.5.1，1994年版的4.4） 请注意才本 步及专利。 本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 文化 准化技术委员会（SAC/TC103）归口。 本文件 上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、 河南省计量科学研究院 南京东利来光电实业有限责任公司、宁波永新光 州粤显光学仪器有限责任公司、南京江南永新光学有 限公司、宁波舜宇仪器有限公司、宁波市教学仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器有限公司、麦克奥迪实 业集团公司、宁波华光精密仪器有限公司、重庆奥特光学仪器有限责任公司。 本文件主要起草人：胡清、冯琼辉、罗武勇、张卫东、韩森、洪宜萍、毛磊、鲍金权、徐涛、李晞、 胡森虎、张琪、张景华、章光伟、徐利明、吴国民。 本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为： -1985年首次发布为ZBN305-85； 1994年第一次修订，发布为JB/T7402—1994； 一本次为第二次修订。 II